43
Что касается зависимости h
21E
от температуры, то следует отметить,
что во все слагаемые рекомбинационных потерь входят параметры
материала прибора, зависящие от температуры. Это коэффициент
диффузии, диффузионная длина и время жизни неосновных носителей
заряда. Но это все довольно слабые зависимости. Однако в выражение для
рекомбинационных потерь в эмиттере температура входит в показатель
экспоненты (50). Именно этим
слагаемым рекомбинационных потерь и
определяется наблюдаемая на экспериментах достаточно сильная
зависимость
h
21E
от температуры. А именно h
21E
монотонно растет с ростом
температуры во всем рабочем интервале температур. Если транзистор
работает в области микро токов, то основной вклад в сумму
рекомбинационных потерь будут вносить слагаемые
R
ЭП
и R
S
, в которые
множителем входит концентрация собственных носителей заряда, сильно
зависящая от температуры. В этом случае именно она будет определять
температурную зависимость
h
21E
. В этом случае h
21E
также будет расти с
ростом температуры, но более сильно, чем в области средних и больших
токов.
3. Дифференциальный коэффициент передачи тока базы транзистора
Рассмотренный нами в предыдущем разделе статический
коэффициент передачи тока базы
h
21E
является наиболее универсальным
параметром транзистора. Но часто транзисторы используются для работы в
усилительном режиме, где надо использовать дифференциальный
коэффициент передачи тока
h
21e
:
Б
K
constV
constJ
Б
K
e
i
i
J
J
h
КЭ
K
=
∂
∂
=
=
=
21
, (85)
где
i
K
и i
Б
- переменные составляющие полных токов коллектора и базы
соответственно.