Следовательно,
Лр
3
= Д*)
<—
Д*2
==
Ад
3
= Д у!
—
Д г/г = Л/1 — Аг
2
.
(22.13)
Н
Аналогично можно получить искажения параллаксов для стан-
дартно расположенных точек 4, 5 и 6. В результате будем иметь
Др
3
= Др
4
= Д р
5
= Др
6
; 1
, , , , (22.14)
А?з = —
А<
74
= =
_
)
Таким образом, влияние рефракции на параллаксы аналогично
влиянию симметричной дисторсии.
В аналитической фототриангуляции влияние рефракции учиты-
вается путем введения поправок в измеренные координаты точек
снимков.
Если сеть строится на универсальном приборе, то влияние реф-
ракции учитывается с помощью полиномов в процессе внешнего
ориентирования сети по опорным точкам.
Влияние кривизны Земли. В геодезии высоты точек местности
определяют относительно уровенной поверхности II (рис. 289), а
в фотограмметрии — относительно начальной плоскости Е, кото-
рая в общем случае может занимать произвольное положение.
Так как начальная плоскость никогда не совпадает с уровенной
поверхностью, то фотограмметрические высоты содержат система-
тические ошибки, обусловленные кривизной Земли. Очевидно, и
плановое положение точек местности, полученное в фотограммет-
рии в результате ортогонального проектирования на начальную
плоскость, отличается от положения их на уровенной поверхности.
Пусть начальная плоскость проходит через точку Л
0
— проек-
цию точки А местности на уровенную поверхность и перпендику-
лярна к отвесной прямой АА
0
, т. е. горизонтальна. Примем точку
Л
о
за начало фотограмметрической системы координат ХУ7. и на-
правим ось X вдоль маршрута, а ось 1 — вверх по прямой А
0
А.
Фотограмметрическую высоту точки М местности обозначим че-
рез Ъ, а геодезическую — через 2
Г
. Условимся считать Землю ша-
ром с центром О и радиусом Ц.
Из рис. 289 следует
2
Г
= М
0
М = М
0
С + СМ.
Но
М
0
С = —-—-—/?; СМ=
2
соз 0 соз 0
где 0 — центральный|угол^при точке О между направлениями на
точки А и М. Так как этот "угол мал, то
2
454.
М
0
С = Я9
2
; СМ =2^1+ .