2001.
Общее описание.
Развитие технологии S.M.A.R.T.
Атрибуты (attribute).
Автономное сканирование поверхности (off-line read scanning).
Журналы ошибок (error log).
Встроенные функции самоконтроля (self-test).
Развитие технологии S.M.A.R.T.
Атрибуты (attribute).
Автономное сканирование поверхности (off-line read scanning).
Журналы ошибок (error log).
Встроенные функции самоконтроля (self-test).