Определение эффективного времени жизни неосновных носителей тока в
базе полупроводникового прибора по закону изменения «остаточной»
ЭДС при включении прямого тока через диод;
Исследование температурной зависимости времени жизни.
Исследование температурной зависимости времени жизни.