Батоврин В.К. LabVIEW: практикум по основам измерительных технологий

М.: ДМК Пресс, 2005. — 208 с. — Авторы: Батоврин В.К., Бессонов А.С., Мошкин В.В., Папуловский В.Ф. Данная книга содержит практикум по основам измерительных технологий. Работы охватывают основы метрологии и измерительной техники, вопросы обработки и представления результатов измерений, методы и средства электрических измерений. Выбор этих разделов обусловлен тем, что с ними чаще всего приходится сталкиваться в учебной и производственной практике. Основой представленного в настоящем издании практикума является комплекс прикладных программ, созданный в инструментальной среде разработки приложений LabVIEW. Программное обеспечение является оригинальной разработкой авторов учебного пособия и представлено на компакт-диске, поставляемым с книгой. Издание предназначено для студентов технических вузов, обучающихся по специальностям "Приборостроение", "Информационно-измерительная техника и технологии", "Методы и средства измерений", а также для студентов других направлений подготовки, изучающих смежные дисциплины.