е) приспособлением для измерения шероховатости малых отверстий
диаметром от 3 мм на глубину 5 мм.
3) Профилометр модели 240 – переносной прибор, предназначенный
для измерения шероховатости поверхностей по параметру R
z
в интервале
от 2,5 до 0,02 мкм (6-12 классы) в цеховых условиях.
Кроме указанных промышленность выпускает и другие типы прибо-
ров «Калибр» мод. 221, 253, 283, приборы специального назначения для
(измерения шероховатости колец подшипников и т.д.)
К недостаткам контактных (шуповых) приборов относится: царапан-
ные поверхности деталей из мягких материалов, несмотря на малое уси-
лие на алмазную иглу, радиус закругления иглы не позволяет проникать в
узкие и глубокие впадины микронеровностей и отражать их на профило-
грамме или на шкале прибора.
К бесконтактным методам измерения шероховатости относятся: методы
светового сечения профиля, теневого сечения (проекции), методы с примене-
нием растров (растровые микроскопы), двухлучевой интерференции (микро-
интерферометры, микропрофилометры), рефлектометрический метод. При-
боры светового сечения (МИС-11, ПСС-2) представляют собой систему из 2-
х микроскопов: микроскопа, проектирующего изображение светящейся щели
на шероховатую поверхность и микроскопа наблюдения, поэтому первые
образцы прибора названы двойными микроскопами. В настоящее время эти
приборы усовершенствованы и используются для измерения параметров ше-
роховатости R
z
, R
max
, S, в пределах R
z
от 0,5 до 50 мкм.
Приборы теневого сечения профиля (ПТС-1, ПТС-4, ТСП-4М) пред-
назначены для оценки шероховатости грубо обработанных поверхностей с
высотой неровностей от 320 до 80 мкм (1-3 класс). Это слабо отражающие
поверхности грубого литья, поверхности дерева (ГОСТ 7016-75) и др.
Оценка высоты неровностей производится сравнением величины изобра-
жения неровностей с делениями сетки окуляра.
Растровый (муаровый) метод исследования шероховатости получил
развитие в 1964 г., когда было предложено использовать высокую чувст-
вительность муаровых полос к местному изменению шага используемых
растров для измерения высот неровностей, вызывающих это изменение
шага. Растровый метод исследования шероховатости реализован в микро-
скопе ОРИМ-1, который обеспечивает измерение шероховатости по пара-
метрам R
z
и R
a
в пределах (40…0,08) мкм наружных поверхностей пре-
имущественно с направленными следами обработки.
Приборы типа МИИ (микроинтерферометры) обеспечивают измере-
ние шероховатости по параметрам R
z
, R
a
, R
max
, в пределах
(40…0,025) мкм. Промышленностью выпускаются следующие типы мик-
роинтерферометров: МИИ-4; МИИ-9; МИИ-10; МИИ-12; МИИ-15, микро-
профилометр МИИ-12-1.