111
хватывать и длительное время сохранять электрический заряд.
Такая структура называется МНОП (металл — нитрид кремния —
окисел — полупроводник). Чтобы зарядить слой нитрида крем-
ния, на затвор МНОП-транзистора подается программирующий
импульс, по амплитуде в несколько раз превышающий рабочие
уровни напряжений. При подаче сигнала на адресную шину, под-
ключенную к затворам МНОП-транзисторов, логическая 1 чита-
ется на истоке «заряженных» транзисторов. При отсутствии заря-
да ЗЯ хранит логический 0. Для стирания записанной информа-
ции, т. е. для удаления заряда, захваченного слоем нитрида крем-
ния, на затвор МНОП-транзистора необходимо подать импульс
напряжения противоположной полярности.
В
EPROM (Erasable PROM) ЗЯ реализуется на МОП-
транзисторе с селекторным и плавающим затворами. Плавающий
затвор заряжается током лавинной инжекции при подаче на сток
транзистора повышенного напряжения (до 25–30 В). Пороговое на-
пряжение возрастает с 3 до 15 В, и при чтении на выходе ЗЯ чита-
ется 0. Для стирания информации пользуются облучением кри-
сталла через специальное прозрачное окно в корпусе микросхемы
ультрафиолетовым светом. Заряд на плавающем затворе рассасы-
вается, пороговое напряжение падает, и выход повторяет высокий
потенциал затвора — уровень логической 1. Комнатное освещение
или солнечный свет не влияют на запрограммированное ПЗУ.
Особенно перспективны в настоящее время
ЕЕPROM типа
флэш-памяти (Flash), допускающие запись и стирание блоков ин-
формации (вплоть до 60 Кб), в отличие от побайтового обращения
при программировании других
ЕЕPROM. Разработанная по флэш-
технологии микросхема 28F008SA представляет собой энергонеза-
висимую СБИС емкостью 1 Мб с временем обращения 85 нс и
электрическим стиранием записанной информации.
7.5 ОЗУ статического типа
Оперативные запоминающие устройства
(ОЗУ). Элементом
памяти ОЗУ статического типа (
RAM) служит триггер на биполярных
или полевых транзисторах, ОЗУ динамического типа (
DRAM) —
конденсатор, специально сформированный внутри МОП-струк-