62
Необходимо также сочетание с другими методами для уверенной
идентификации термоэффектов.
Дополнительно перечислим виды фазового анализа, ориентированные на
узкий круг минералов:
- магнитометрический, позволяющий определять массовую долю
магнетита в поле насыщения магнетита;
- воздушный анализ, позволяющий выделить и взвесить частицы,
отличающиеся от других по форме и, соответственно, поведению в восходящих
потоках воздуха (
асбест, слюда);
- люминесцентный анализ, позволяющий выделить и отобрать зерна
люминесцирующих минералов (таких около 150);
- фотометрический анализ, позволяющий оценить состав и качество
пробы по спектру отражения видимого света и его интенсивности (каолин,
темноцветные минералы);
- адгезионно–липкостный анализ, позволяющий выделить минералы,
селективно прилипающие к какой-либо поверхности (асбест к волосяным
щеткам, алмазы –
к жировым поверхностям).
- термохимический метод, позволяющий определить массовую долю
цеолитов в пробе по реакции регидратации цеолита. Навеску нагревают до 500°
и дегидратируют минералы. При возврате воды происходит регидратация
цеолита с выделением тепла, количество которого и измеряется. Название
«термохимический» имеют также методы определения алмазов, золота путем
сплавления пробы с пиросернистым калием с
последующим ее растворением
водой и выделением частиц алмазов и золота.
6.5. Вспомогательные методы анализа
Электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ состоит в
облучении и анализе микрообъема вещества пробы – несколько мкм
3
. Обычно
совмещается с осмотром участка облучения с помощью микроскопа. Облучение
ведут пучком электронов диаметром 1 мкм и даже до 0,2 – 0,1 мкм. Глубина
проникновения электронов 2 (Cu) – 50 (Al) мкм. Определение элементов
производится по рентгенофлюоресцентному излучению.
С помощью зондового анализа можно установить локализацию
элементов, разновидности минеральных фаз, выделить участки размером около
5 мкм, следовательно, определить наличие микровключений.
Электронная
микроскопия. Наименьшее расстояние, которое можно
разрешить с помощью светового микроскопа при длине световой волны
0,4-0,7 мкм для средней части видимого спектра, равно 0,2 мкм (примерно 1/3
длины волны). Электронные лучи имеют длину волны на 5 порядков меньше
световой, что позволяет разрешать расстояние около 1
о
А . Это значит, что с
помощью электронного микроскопа можно увидеть строение коллоидных
частиц, кристаллические решетки минералов, в целом вплотную подойти к
изучению вещества на атомарном уровне. Длина волны электронных лучей,
°
А