Лекция 3
1.3. Основные процессы в низкотемпературной плазме
1.3.1. Упругие столкновения и перезарядка
В неравновесной плазме упругие столкновения определяют скорости многих релаксационных процессов.
Наибольший интерес для нас представляют столкновения электронов с тяжелыми частицами. Вероятность
рассеяния электрона на некоторый угол θ определяется деталями потенциала взаимодействия рассеиваю-
щей частицы с налетающим электроном. Она пропорциональна дифференциальному сечению рассеяния
dσ(v)=(dσ/dΩ) dΩ. Угловое распределение рассеянных электронов dσ/dΩ может быть довольно слож-
ным. Полное сечение рассеяния равно σ
c
(v)=∫ dσ(v). Если учесть распределение электронов по скоро-
стям, то можно ввести среднее сечение рассеяния ¯σ
c
= ∫ v
2
σ
c
(v)f(v)dv. Частота упругих столкновений
определяется выражением ν
c
(v)=vσ
c
(v)n,гдеn — плотность частиц, с которыми сталкивается электрон.
Рис. 8: Вероятности столкновений (пунктир) и вероятности, соответствующие транспортным се-
чениям в He, Ne и Ar.
Поскольку доля энергиии, передаваемая электроном, зависит от угла рассеяния, то вводят сечение столк-
новения с переносом импульса, называемое транспортным (см. рис. 8) сечением
1
σ
tr
= σ
c
(1 − cos θ) , (1.3.1)
что позволяет ввести эффективную частоту столкновений
ν
m
= ν
c
(1 − cos θ) , (1.3.2)
1
Напомним здесь, что для атомов с заполненной внешней оболочкой (Ar, Kr, Xe) при энергиях налетающего элек-
трона порядка нескольких электронвольт, когда его де-бройлевская длина волны λ [нм] =1.2
√
E [эВ] становится
сравнима с размером атома, наблюдается снижение сечения рассеяния почти до нуля (эффект Рамзауэра)
36