известные из литературы примеры неустойчивости НТП - ионизацион-
ная и тепловая неустойчивости.
Ионизационная неустойчивость связана со столкновительными про-
цессами во временной шкале относящимися к промежуточному типу. Эти
процессы связаны с неустойчивостью баланса ионизации в плазме по
отношению к рекомбинации, когда случайное увеличение N
e
в некото-
рой части объема с плазмой приводит к локальному увеличению скоро-
сти ионизации, например, из-за роли ступенчатых процессов или влия-
ния электрон - электронных столкновений на ФРЭЭ. Локальное изме-
нение концентрации N
e
приводит к локальному изменению напряжен-
ности электрического поля. При положительном значении инкремента
неустойчивости, зависящего от отношения эффективных частот иони-
зации и диффузии (рекомбинации) возможно развитие неустойчивости.
Физический смысл этого условия заключается в том, что в первом случае
скорость ионизации в объеме нарастает быстрее скорости ухода заряжен-
ных частиц.
Неустойчивость плазмы может также вызывать локальное измене-
ние температуры электронов, которое связано с обменом энергией меж-
ду электронами и нейтральными частицами (тепловая неустойчивость
плазменных колебаний). Длина тепловой релаксации λ
T
e
при этом про-
порциональна длине свободного пробега λ
e
и обратно попорциональна
√
δ
ea
, где - δ
ea
коэффициент передачи энергии при упругом электрон
- атомном взаимодействии. При типичных значениях приведенной на-
пряженности поля в плазме E порядка 3 В· см
−1
· мм.рт.ст.
−1
, радиуса
плазменного канала 1 см масштаб теплового нагрева (превышение тем-
пературы газа над температурой стенки) в условиях тлеющего разряда
порядка 1 Вт/см
3
. При значительном нагреве газа по оси разряда про-
исходит явление контракции, когда газовая температура T , плотность
тока и концентрация электронов увеличиваются, поскольку увеличива-
ется длина свободного пробега плазменных электронов в направлении
приложенного электрического поля,
λ ∼ 1/N
0
∼ T, (2.14)
а также разной зависимостью скоростей ионизации и рекомбинации от
концентрации электронов. Возмущение T
e
, также как и возмущение N
e
приводят к изменению частоты ионизации. В итоге в случае цилиндриче-
ской симметрии при малых возмущениях (изменения параметров плазмы
29