Ван дер Зил. Шум: Источники, измерения, описание

формат djvu
размер 1.92 МБ
добавлен 18 мая 2010 г.

Ван дер Зил А. Шум. Источники, измерения, описание. (пер. с англ. ) - Москва Сов. радио, 1973 - 228 стр.

В книге приводятся теоретические и экспериментальные сведения об источниках шума в в полупроводниковых приборах.

Содержание:
Введение.
Математические методы.
Описание шумов.
Измерение шума.
Тепловой шум и шум генерации-рекомбинации.
Дробовой шум, шум токораспределения и фликкер-шум.
Шум в конкретных устройствах.
Смесители.
Приложение.

Смотрите также

Батавин В.В. и др. Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур

формат djvu
размер 2.77 МБ
добавлен 28 марта 2011 г.

/ В. В. Батавин, Ю. А. Концевой, Ю. В. Федорович - М.: Радио и связь, 1985. - 264 с., ил. (Измерения в электронике). Рассмотрены физические основы методов измерений электрофизических и структурных параметров полупроводниковых материалов и эпитаксиальных слоев, а также освещены вопросы их практической реализации. Анализируются причины возникновения погрешностей, даются рекомендации по ограничению и устранению источников ошибок измерений. Приводят...

Завражнов Ю.В., Каганова И.И., Мазель Е.З., Миркин А.И. Мощные высокочастотные транзисторы

формат djvu, txt
размер 2.53 МБ
добавлен 25 августа 2011 г.

Под ред. Е.З.Мазеля. - М.: Радио и связь, 1985. - 176 с., ил. Рассматриваются особенности работы мощных высокочастотных транзисторов в линейном режиме. Излагаются вопросы конструирования, технологии транзисторов и методы измерения их параметров. Приводятся области применения таких транзисторов. Для инженерно-технических работников, занимающихся разработкой и применением мощных высокочастотных транзисторов.

Колосницын В.С., Стешенко П.П., Шульгов В.В. Полупроводниковые приборы и интегральные микросхемы

формат pdf
размер 8.57 МБ
добавлен 05 марта 2010 г.

Минск, Амалфея, 2002, 272 с. Учебное пособие написано в соответствии с учебной программой курса «Полупроводниковые приборы и интегральные микросхемы». Рассматриваются основы физики полупроводников, принципы действия и особенности полупроводниковых приборов, общие вопросы терминологии ИМС. Дано описание материалов, из которых изготовлены элементы микросхем и конструкций транзисторов. Для учащихся ПТУ приборостроения, электротехники и электроники.

Курсовой проект - Разработка конструкции триггера Шмитта

Курсовая работа

формат doc
размер 430.85 КБ
добавлен 22 сентября 2008 г.

Введение; Анализ задания на проектирование; Анализ схемы принципиальной электрической; Выбор структуры подложки; Расчет параметров элементов; Выбор навесных компонентов; Разработка коммутационной схемы; Разработка эскиза топологии; Оценка качества разработанной ИМС; Описание технологического процесса изготовления ГИС; Защита ИМС от внешних воздействий; Заключение; Литература; Нормативная документация МГПК, специальность Микроэлектроника.

Лабораторная работа - Описание конструкции элементов полупроводниковых ИМС с эскизами поперечных сечений

Лабораторная

формат doc
размер 65.19 КБ
добавлен 14 мая 2011 г.

ВлГУ 2011, специальность: вычислительная техника, дисциплина: конструкторско технологическое обеспечение производства ЭВМ цели: 1. Изучить свойства и конструкцию исходных пластин (заготовок) для изготовления полупроводниковых ИМС. 2. Изучить конструкцию семи типов полупроводниковых ИМС по заданному варианту. 3. Изучить конструкцию и зарисовать эскизы топологии трех активных и одного пассивного элементов полупроводниковых ИМС по заданному варианту...

Методы проверки электронных компонентов

формат pdf
размер 235.85 КБ
добавлен 03 декабря 2010 г.

Методы проверки электронных компонентов. Омметр + амперметр + вольтметр = мультиметр. Аналоговые и цифровые мультиметры. Методы проверки электронных компонентов. Статья посвящается всем новичкам и просто тем, для кого принципы измерения электрических характеристик различных компонентов, до сих пор остаются загадкой… 9 с.

Павлов Л.П. Методы измерения параметров полупроводниковых материалов

формат djvu
размер 3.46 МБ
добавлен 24 октября 2010 г.

Учебник для вузов по специальности "Полупроводниковые и микроэлектронные приборы". - 2-е издание, переработанное и дополненное - Москва: - Высшая школа, 1987. - 239 с. В книге изложены основы методов измерения электрофизических параметров полупроводниковых материалов, рассматриваются вопросы их практической реализации; даны условия и границы применения методов измерения; проведён анализ причин возникновения погрешностей

Реферат - Барьерная емкость. Варикапы

Реферат

формат docx
размер 381.12 КБ
добавлен 27 мая 2011 г.

Содержание. Введение. Принцип действия и области применения варикапа. Малосигнальная эквивалентная схема варикапа. Особенности конструирования варикапов. Параметры варикапов и методы их измерения. Функциональные зависимости параметров варикапов. Заключение. Список используемой литературы.

Реферат - Фототиристоры

Реферат

формат doc
размер 87.64 КБ
добавлен 08 февраля 2008 г.

Реферат по фототиристорам, описание, принцип действия, обозначения, рисунки.rn

Электронные компоненты. Выпрямительные диоды, диодные мосты и области их применения

формат pdf
размер 746.5 КБ
добавлен 03 декабря 2010 г.

Электронные компоненты. Выпрямительные диоды, диодные мосты и области их применения. Номенклатура, описание, схемы применения. 2010 г. Гамма Санкт-Петербург. 13 с.