Статистический анализ экономических данных
Финансово-экономические дисциплины
software
  • формат exe, txt
  • размер 13.57 МБ
  • добавлен 20 мая 2011 г.
Статистический контроль процессов 2.4
Программа «Статистический контроль процессов» это универсальная гибкая платформа, которая может быть развернута на любом предприятии или организации. Позволяет разрабатывать и модифицировать программы статистического направления без программирования – т. е методом конфигурирования платформы под свои нужды.
Платформа позволяет:
Cобирать и анализировать любые как числовые, так и текстовые данные следующего формата «Измерения» - числовые данные которые могут быть нормированы согласно технологической или конструкторской документации, нормироваться произвольно или на основе статистического исследования процесса, «Дефекты» - текстовое описание какого либо свойства объекта, например дефекты полуфабриката, изделия, либо причины рекламации.
«Измерения + склад» - прочие числовые данные неопределенного типа, которые могут не нуждаться в установке нормативов, например количество того или иного сырья поступившего на склад и отпущенного в производство или количество поступившей продукции на испытание и количество продукции не прошедшей испытания.
Аналитика программы ориентирована на производство, но т. к. программа позволяет учитывать любые данные как бухгалтерского, так и складского учета и прочее то можно либо дополнять существующею аналитику без измерения остальной части программы и базы данных либо анализировать эти данные с помощью уже имеющихся средств OLAP анализа данных.
Программа использует сетевую базу данных Firebird и позволяет работать в ней одновременно множеству пользователей и операторов.
Программа содержит демо - пример конфигурирования «Домашняя бухгалтерия»
Похожие разделы
Смотрите также

PCLAB - Моделирование взаимодействия различных видов излучения с веществом

  • формат exe, txt, doc
  • размер 3.9 МБ
  • добавлен 15 мая 2010 г.
Программа предназначена для моделирования методом Монте-Карло процессов распространения электронов, позитронов, фотонов и протонов в веществе, визуализации этих процессов распространения на экране дисплея и для получения некоторых численных результатов взаимодействия излучения с веществом.