М.: МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2017. — 124 с. — ISBN:
978-5-7038-4743-5.
Изложены основные понятия, относящиеся к науке о строении и
свойствах сегнетоэлектрических материалов. Рассмотрены примеры
применения и перспективы использования сегнетоэлектрических пленок
в интегрированных устройствах современной микроэлектроники, а также
основные тенденции развития материалов и технологий в этой области.
Подробно рассмотрены вопросы формирования и визуализации структуры
многослойных композиций на основе тонких пленок и границ раздела
пленка - подложка на атомном уровне с помощью методов электронной
микроскопии и моделирования изображений высокого разрешения, а
также принципы создания наноструктур в пористых матрицах. Издание
иллюстрирует возможности применения методов современного
структурного анализа к исследованию и визуализации микро- и
наносистем.
Для магистрантов, обучающихся по направлению подготовки 22.04.01
"Материаловедение и технологии материалов". Пособие может быть
полезно аспирантам, научным и инженерно-техническим работникам,
специализирующимся в области материаловедения тонкопленочных
материалов.