М.: Мир, 1979. - 582 с.
Книга написана коллективом специалистов США и ФРГ и посвящена методам анализа поверхности твердого тела. Дается общая классификация этих методов и подробно излагаются такие методы, как спектрометрия рассеяния медленных ионов, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, электронная оже-спек-троскопия, вторично-ионная масс-спектрометрия и полевая масс-спектрометрия.
Предназначена для широкого круга научных работников — физиков и химиков, металловедов и материаловедов, инженеров н технологов, а также для преподавателей вузов и студентов соответствующих специальностей.
Книга написана коллективом специалистов США и ФРГ и посвящена методам анализа поверхности твердого тела. Дается общая классификация этих методов и подробно излагаются такие методы, как спектрометрия рассеяния медленных ионов, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, электронная оже-спек-троскопия, вторично-ионная масс-спектрометрия и полевая масс-спектрометрия.
Предназначена для широкого круга научных работников — физиков и химиков, металловедов и материаловедов, инженеров н технологов, а также для преподавателей вузов и студентов соответствующих специальностей.