64
– бортовая аппаратура (аппаратура, устанавливаемая на самоле
тах, ракетах, космических аппаратах), учитывающая особенности
использования (ударные перегрузки, разреженность воздуха, огра
ниченность массогабаритных характеристик и т. п.)
1Б. Надежность. Само понятие надежности, как свойства про
дукции сохранять за установленное время значение всех парамет
ров, характеризующих способность выполнять требуемые функции
в условиях применения, технического обслуживания, хранения, по
казывает, что оно является сложным свойством. Чаще всего рассмат
ривают единичные свойства безотказности, ремонтопригодности,
долговечности и сохраняемости. Такие понятия, также входящие в
определение надежности, как устойчивость работы, процессная уп
равляемость, живучесть при внешних воздействиях, большинством
авторов рассматриваются отдельно и, более того, утверждается, что
они не имеют отношения к надежности. Сама характеристика на
дежности довольно трудна для представления, так как она носит ста
тистический характер.
Появление микроэлектронных, а с начала 90х годов наноэлект
ронных устройств привело к парадоксальному, на первый взгляд,
результату – резкое увеличение числа элементов в системе привело к
одновременному возрастанию характеристик надежности. Объясне
ние этого “парадокса” довольно просто: надежность элементов шла
опережающими темпами по сравнению с ростом сложности. Так, если
в 70е годы интенсивность отказов оценивалась значениями 10
–5
–
10
–6
единиц отказа в час (т. е. один из миллиона элементов откажет
в течение часа), то для микроэлектронных элементов была уже пред
ложена единица, названная фитом (failure digit), равная 10
–9
, и уже
есть сообщения, что наноэлектронные изделия оцениваются тысяч
ными долями фита. В справедливость этих утверждений можно ве
рить умозрительно, так как автору неизвестны методы статистичес
кой оценки таких малых величин. Например, для подтверждения
интенсивности отказов 10
–2
с доверительной вероятностью 90% и
заданной точностью требуется проведение испытаний длительнос
тью не менее 3200 часов (для одного образца). Уже на этапе исследо
вания систем проекта Аполлон, разработчики отказались от прове
дения определительных испытаний характеристик надежности. Вто
рое обстоятельство, характерное для микроэлектронной аппарату
ры: участок приработки оказывается длиннее, чем срок морального
устаревания аппаратуры. И, наконец, характеристика средней нара
ботки на отказ для сложной радиоаппаратуры практически не имеет
физического смысла [5,6]. Однако все заказчики и существующие