• Ультрафиолетовая и инфракрасная микроскопия позволяет проводить исследования за пределами
видимой области спектра. Ультрафиолетовая микроскопия (250—400 нм) применяется для
исследования биологических объектов (например, следы крови, спермы), инфракрасная микроскопия
(0,75—1,2 мкм) дает возможность изучать внутреннюю структуру объектов, непрозрачных в видимом
свете (кристаллы; минералы; некоторые виды стекла; следы выстрела; залитые, заклеенные тексты).
• Стереоскопическая микроскопия позволяет видеть предмет объемным. Применяется для исследования
практически всех видов объектов (следы человека и животных, документы, лакокрасочные покрытия,
металлы и сплавы, волокна, минералы, пули и гильзы и т.д.). С помощью двух окуляров создают
объемное изображение. Микроскопы, как правило, снабжены насадкой для фотографирования.
• Сравнительные микроскопы (типа МИС, МС, МСК) имеют спаренную оптическую систему, что
позволяет производить одновременное исследование двух объектов. Микроскопы специальные
криминалистические типа МСК позволяют наблюдать изображение не только с помощью окуляра, но и
на специальном экране. Современные сравнительные микроскопы, оснащенные 'телекамерами и
управляемые персональными компьютерами, позволяют получать комбинированное изображение
сравниваемых объектов на телеэкране (телевизионная микроскопия), исследовать объекты в
поляризованном свете, со светофильтрами, в инфракрасных или ультрафиолетовых лучах, дают
возможность чисто электронным путем изменять масштаб контрастность и яркость изображения.
• Просвечивающая электронная микроскопия основана на рассеянии электронов без изменения энергии
при прохождении их через вещество или материал. Просвечивающий электронный микроскоп
используют для изучения деталей микроструктуры объектов, находящихся за пределами разрешающей
способности оптического микроскопа (мельче 0,1 мкм). Позволяет исследовать объекты —
вещественные доказательства в виде тонких срезов (например, волокон или лакокрасочных покрытий
для исследования особенностей морфологии их поверхности); суспензий, например, горюче-смазочных
материалов. Микроскопы просвечивающего типа имеют разрешающую способность порядка 10
-8
см.
• Растровая электронная микроскопия (РЭМ), получившая широкое распространение в экспертных
исследованиях, основана на облучении изучаемого объекта хорошо сфокусированным с помощью
специальной линзовой системы электронным пучком предельно малого сечения (зонд),
обеспечивающим достаточно большую интенсивность ответного сигнала (вторичных электронов) от
того участка объекта, на который попадает пучок. Разного рода сигналы представляют информацию об
особенностях соответствующего участка объекта. Размер участка определяется сечением зонда (10
-8
10
-7
см). Чтобы получить информацию о достаточно большой области, дающей представление о
морфологии объекта, зонд заставляют обегать («сканировать» от англ. scanning — обегание) заданную
площадь по определенной программе. РЭМ позволяет повысить глубину резкости почти в 300 раз по
сравнению с обычным оптическим микроскопом и достигать увеличения до 200 000
х
. Широко
используется в экспертной практике для микро-трасологических исследований, изучения
морфологических признаков самых разнообразных микрочастиц (металлов, лакокрасочных покрытий,
волос, волокон, почвы, минералов). Многие растровые электронные микроскопы снабжены так
называемыми микрозондами — приставками, позволяющими проводить рентгеноспектральный анализ
элементного состава изучаемой микрочастицы.
Методы анализа состава
Методы элементного анализа используются для установления элементного состава, т.е.
качественного или количественного содержания определенных химических элементов в данном
веществе или материале. Круг их достаточно широк, однако наиболее распространенными в экспертной
практике являются следующие:
• Эмиссионный спектральный анализ, заключающийся в том, что с помощью источника ионизации
вещество пробы переводится в парообразное состояние и возбуждается спектр излучения этих паров.
Проходя далее через входную щель специального прибора — спектрографа, излучение с помощью
призмы или дифракционной решетки разлагается на отдельные спектральные линии, которые затем
регистрируются на фотопластинке или с помощью детектора. Качественный эмиссионный
спектральный анализ основан на установлении наличия или отсутствия в полученном спектре
аналитических линий искомых элементов, количественный — на измерении интенсивностей
спектральных линий, которые пропорциональны концентрациям элементов в пробе. Используется для
исследования широкого круга вещественных доказательств — взрывчатых веществ, металлов и сплавов,
нефтепродуктов и горюче-смазочных материалов, лаков и красок и др.