не изменяют своего направления или отклоняются незначи-
тельно. Более плотные вещества, а также утолщенные участки
сильнее рассеивают электроны и поэтому изображаются на
флюоресцирующем экране более темными, чем тонкие, менее
плотные объекты. Это сильно увеличенное изображение может
быть получено на фотоматериалах. Используя различные при-
емы подготовки образца для исследования и способы фиксации
последствий электронного облучения, изложенные в специаль-
ных инструкциях, можно установить размер, форму, характер
поверхности, а также получить стереоскопическое изображение
объекта.
Растровый (сканирующий) электронный микроскоп (РЭМ)
действует на телевизионном принципе развертки тонкого пучка
электронов по поверхности образца. Исследования проводят на
свежих сколах или пришлифовках пород. Для предотвращения
скопления электрического заряда на отдельных участках по-
верхности образца, на нее в вакуумной установке наносят тон-
кую (10—20 нм) пленку металла — золота, серебра, платины
или некоторых других. Пучок электронов (рис. 48) с катода 1
при ускоряющем напряжении до 50 ООО В проходит через си-
стему магнитов и электромагнитов, выполняющих роль линз 2,
4 и фокусируется в плоскости образца 5. Часть электронного
тока с образца переходит в коллектор 6, образуя видеосигнал.
Последний, после усиления в усилителе 7 модулирует ток в луче
кинескопа 10. Синхронизация отклонения луча в приборе и
электронно-лучевой трубке осуществляется с помощью генера-
тора пилообразных сигналов (5, 3, 9 — отклоняющие катушки).
Разрешающая способность современных РЭМ —1,5 нм и
позволяют получить увеличение от 12 до 150 000 раз. РЭМ дает
возможность наблюдать визуально и фотографировать с кине-
скопа прямое, объемное изображение структуры породы, по-
верхности минеральных зерен, морфологических особенностей
тонкодисперсных (рис. 49) и аморфных минералов, а также
структуру порового пространства. В последние годы В. А. Кузь-
миным (МИНГ им. И. М. Губкина) разработана методика ис-
следования распределения нефти и битумов в породе на основе
совмещения вторично-электронного и катодо-люминесцеитного
изображений (рис. 50).
Химический анализ. В практике литологических исследова-
ний химический анализ находит широкое применение в изуче-
нии хемогенных и биогенных пород, а в ряде случаев — обло-
мочных и глинистых. Этот вид анализа предназначен для коли-
чественного определения содержания того или иного элемента.
Существуют несколько видов химического анализа: полный
(силикатный или валовой), когда определяются количества
практически всех элементов, входящих в состав породы; сокра-
щенный (или карбонатный) анализ предусматривает определе-
6
Заказ Jft 1133
16l