
106
Використання запропонованого пристрою для вимірювання темпера-
тури суттєво підвищує точність вимірювання інформативного параметра за
рахунок виконання ємнісного елемента коливального контуру у вигляді
польових транзисторів, в якому зміна опору під дією температури перетво-
рюється в ефективну зміну резонансної частоти, а також за рахунок мож-
ливості лінеаризації функції перетворення шляхом вибору напруги
джерел
живлення.
Розглянемо ще один напівпровідниковий вимірювач температури на
основі двох МДН-транзисторів (див. рис. 4.15). Наведена транзисторна
структура має вольт-амперну характеристику лямбда-типу. Між стоками
транзисторів в результаті додатного зворотного зв'язку виникає повний
опір, активна складова якого має від'ємне значення, а реактивна складова –
ємнісний характер.
Рис. 4.15.Електрична схема МДН-транзисторної
структури з від’ємним опором
Зміна температури навколишнього середовища впливає на різні па-
раметри і характеристики МДН-транзисторів, а саме на рухливість носіїв,
порогову напругу, зворотні струми переходів стоку і витоку та інші па-
раметри [115–117], що відбивається на зміні елементів еквівалентної схе-
ми
від температури, яка показана на рис. 4.16.
Рис. 4.16. Еквівалентна схема МДН-транзистора з врахуванням
температурних залежностей параметрів