77
недиагональная компонента
xy
при этом отлична от нуля. В условиях реальных
экспериментов обычно через образец пропускают заданный ток и измеряются
напряжения на контактах, т. е. измеряемой величиной является не удельная
проводимость а, а обратная величина - удельное сопротивление
. Вычисляя по
известным формулам компоненты обратного тензора, получаем, что в областях
холловских плато
e
h
xyxx
2
,0 ==
ρρ
.
(6. 18)
Таким образом, диагональная компонента сопротивления обращается в нуль
одновременно с диагональной компонентой проводимости, а недиагональная
компонента сопротивления (как и проводимости) принимает квантованные значения,
равные комбинации мировых констант.
Исследования показывают, что формулы (6. 16), (6. 18) являются точными и не содержат
поправок, т. е. с той точностью, с которой в эксперименте можно измерить
сопротивление
xy
, эта величина равняется Neh
2
. Это означает, что путем
высокоточных измерений холловского сопротивления можно определить величину
he
2
. Часто говорится, что КЭХ представляет собой метод прецизионного измерения
постоянной тонкой структуры ce h
2
. Это связано с тем, что значение скорости света c
хорошо известно из других метрологических измерений с точностью, значительно
большей, чем точность измерений е и h как в КЭХ, так и с помощью других методов.
Помимо измерений мировых констант, КЭХ получил и другое применение в
метрологии. Величина
2
eh , определяемая из КЭХ, имеет размерность сопротивления и
численное значение ~25813 Ом. Поэтому структуру с хорошо выраженными плато КЭХ
можно использовать в качестве эталона сопротивления.
6.4. Эффекты локализации и их роль в КЭХ.
Рассмотрим вопрос о физической природе КЭХ, полагая для определенности, что
речь идет об измерениях зависимостей
xx
и
xy
от концентрации электронов при
фиксированном магнитном поле.
Отсутствие
xx
и постоянство
xy
в некотором интервале концентраций
s
n
говорят о том, что во всем этом интервале уровень химического потенциала остается
зафиксированным в промежутке между уровнями Ландау. Это возможно лишь в том
случае, если в данном промежутке есть какие-то состояния, способные принять
s
n
электронов и не изменить при этом ток через образец. Иными словами, в образце должен
существовать резервуар локализованных состояний. Современные физические
представления связывают наличие таких состояний с неизбежно существующим в
образце случайным потенциалом, вызванным, в частности, флуктуациями в
расположении примесных ионов.
Основные понятия о локализации в случайном потенциале были сформулированы
Андерсоном
и Моттом около 40 лет тому назад. Представим себе разрешенную зону
энергетических состояний (Рис. 6. 4, а). В идеальном кристалле любое состояние в зоне
является делокализованным, т. е. находящиеся в нем электроны могут свободно
двигаться по всему кристаллу. При наличии случайного потенциала неоднородностей
)(rV состояния вблизи края зоны становятся локализованными. Электроны этих
состояний двигаются лишь в ограниченной области кристалла, не имея возможности
уйти на большое расстояние, и потому не могут дать вклада в ток через образец. Вблизи
центра зоны располагается область делокализованных состояний. Уровни энергии Е
т
,
разделяющие локализованные и делокализованные состояния, называются порогами