ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 2 МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ МИКРОСКОП
Краткие теоретические сведения
Материаловедение. Лаб. практикум -19-
Характеристика объективов и окуляров микроскопа МИМ-7 приведе-
на в табл. 2.1
.
Таблица 2.1
Увеличение объективов и окуляров микроскопа МИМ-7
Объективы
Окуляры
Для визуального наблюдения Для фотографирования
х7 х10 х15 х20 х7 х10 х15
8,6
х
(F = 23,2; А = 0,17) 60 90 130 170 70 120 160
14,4
х
(F = 13,89; А = 0,30) 100 140 200 300 115 200 270
24,5
х
(F = 8,16; А = 0,37) 170 240 360 500 200 340 450
32,5
х
(F = 6,16; А = 0,65) 250 320 500 650 260 440 600
72,2
х
(F = 2,77; А = 1,06) 500 720 1 080 1 440 575 1 000 1 350
Разрешающей способностью оптического прибора называют величи-
ну, обратную разрешаемому расстоянию d
p
. Разрешающая способность микро-
скопа определяется способностью объектива (но не всегда равна ей) и равна
1/d
p
= А/λ,
где d
p
– разрешаемое расстояние; λ – длина волны источника света; А – чи-
словая апертура объектива, зависящая от показателя преломления среды n и
от конструкции линзы (ее отверстного угла 2
α),
sin .
⋅α
n
Ограничения разрешающей способности в оптике возникают вследст-
вие явлений аберрации и дифракции. Хроматической аберрацией называется
неодинаковое преломление линзой лучей различного цвета (различной длины
волны), которые не имеют одной общей точки схода (фокуса). Хроматиче-
ская аберрация ухудшает четкость изображения; ее можно полностью устра-
нить только применением монохроматического света. Сферическая аберра-
ция з
аключается в том, что лучи, преломляемые краем линзы и центральной ее
частью, не сходятся в одной точке, что также ухудшает четкость изображения.
Для уменьшения сферической аберрации объектив изготовляют из двух линз –
выпуклой и вогнутой, которые имеют одинаковую, но различно направлен-
ную сферическую аберрацию.
Свет попадает в объектив микроскопа, претерпев рассеяние на дета-
лях структуры шлифа. Рассеянные св
етовые лучи интерферируют, образуя
дифракционные максимумы и минимумы интенсивности. Направление ди-
фракционных максимумов определяется соотношением между размером де-
тали структуры и длиной волны света
λ:
sin ,
α= ⋅λdm