Векилова Г.В., Иванов А.Н. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. Часть 3

Конспект лекций. - М.: МИСиС, 2007. - 41 с.
Третья часть конспекта лекций посвящена описанию теоретических основ метода просвечивающей электронной микроскопии. Содержание Просвечивающая электронная микроскопия
Формирование изображения в просвечивающем электронном микроскопе (ПЭМ)
Основные типы контраста в ПЭМ
Основы кинематической теории дифракционного контраста
Принципы динамической теории (двухлучевой случай)
Контраст на кристаллах с дефектами
Анализ гетерогенного сплава (матричный контраст)
Контраст собственно на включениях