М.: Металлургия, 1973. - 584 с.
В книге рассмотрены подготовка аппаратуры и образцов к прямому исследованию в просвечивающем электронном микроскопе, работа оператора микроскопа и приёмы анализа электронных микрофотографий и микроэлектронограмм. Детально показано применение понятия об обратной решетке в кристаллографических расчётах и при анализе дифракционных картин, методика фазового анализа, однозначного определения и уточнения ориентировки и разориентировки соседних микрообластей, ориентационных и габитусных соотношений кристаллов одной или разных фаз. Рассмотрены и проиллюстрированы примерами новые методические приёмы, разработанные для повышения разрешения изображений дефектов, для анализа полей смещения у включений и т.д.
В книге рассмотрены подготовка аппаратуры и образцов к прямому исследованию в просвечивающем электронном микроскопе, работа оператора микроскопа и приёмы анализа электронных микрофотографий и микроэлектронограмм. Детально показано применение понятия об обратной решетке в кристаллографических расчётах и при анализе дифракционных картин, методика фазового анализа, однозначного определения и уточнения ориентировки и разориентировки соседних микрообластей, ориентационных и габитусных соотношений кристаллов одной или разных фаз. Рассмотрены и проиллюстрированы примерами новые методические приёмы, разработанные для повышения разрешения изображений дефектов, для анализа полей смещения у включений и т.д.