Новосибирск: Изд-во НГТУ, 2000.
Авторы: Батаев А. А, Батаев В. А., Тушинский Л. И., Которов С. А., Буторин Д. Е., Суханов Д. А., Батаева З. Б., Смирнов А. И., Плохов А. В.
В пособии рассматриваются методы физического контроля материалов: оптическая, электронная (просвечивающая и растровая), туннельная микроскопия; методы рентгеновского, микрорентгеноспектрального, спектрального анализа; методы магнитного и акустического контроля; оптико-телевизионные методы исследований. Пособие рассчитано на студентов, обучающихся по направлению "Материаловедение и технология новых материалов".
Авторы: Батаев А. А, Батаев В. А., Тушинский Л. И., Которов С. А., Буторин Д. Е., Суханов Д. А., Батаева З. Б., Смирнов А. И., Плохов А. В.
В пособии рассматриваются методы физического контроля материалов: оптическая, электронная (просвечивающая и растровая), туннельная микроскопия; методы рентгеновского, микрорентгеноспектрального, спектрального анализа; методы магнитного и акустического контроля; оптико-телевизионные методы исследований. Пособие рассчитано на студентов, обучающихся по направлению "Материаловедение и технология новых материалов".