Томск: ТУСУР, 2007. – 35 с.
Лабораторный практикум предназначен для студентов специальностей 210104 «Микроэлектроника и твердотельная электроника» и 200600 «Фотоника и оптоинформатика».
Лабораторные работы:
Определение ширины запрещенной зоны полупроводников
Измерение концентрации и подвижности носителей заряда
Изучение эффекта Пельтье в полупроводниках
Изучение фото-ЭДС в полупроводниках
Определение концентрации носителей заряда в полупроводниках методом термо-ЭДС
Измерение удельного сопротивления полупроводников
Оптический метод определения ширины запрещенной зоны в аморфных диэлектриках и полупроводниковых пленках
Лабораторный практикум предназначен для студентов специальностей 210104 «Микроэлектроника и твердотельная электроника» и 200600 «Фотоника и оптоинформатика».
Лабораторные работы:
Определение ширины запрещенной зоны полупроводников
Измерение концентрации и подвижности носителей заряда
Изучение эффекта Пельтье в полупроводниках
Изучение фото-ЭДС в полупроводниках
Определение концентрации носителей заряда в полупроводниках методом термо-ЭДС
Измерение удельного сопротивления полупроводников
Оптический метод определения ширины запрещенной зоны в аморфных диэлектриках и полупроводниковых пленках