Файлы
Обратная связь
Для правообладателей
Найти
Раух Х., Wacker's atlas for characterization of defect in silicon
Файлы
Академическая и специальная литература
Физика
Физика твердого тела
Физика полупроводников
Физика твердого тела
Магнитные свойства твердых тел
Оптические свойства твердых тел
Физика диэлектриков
Физика конденсированных сред
Физика металлов
Физика мягкого вещества
Физика поверхности и тонких пленок
Физика полупроводников
Физика сверхпроводимости
Физика сверхтекучести
Электронные свойства твердых тел
Справочник
формат
pdf
размер
7,59 МБ
добавлен
07 октября 2016 г.
Год издания не известен, г. Бургхаузен, Wacker
Атлас Wacker для определения характеристик дефектов в кремнии (Eng)
Найти документ