Порай-Кошиц М.А. Основы структурного анализа химических соединений

Учебное пособие Томск, ТПИ, 1965, 57 с. Содержание: Введение Тип галоидных соединений Тип органических соединений Тип кислородных солей Вопросы для самопроверки Литература Указатель минералов

Учебное пособие. Томск, ТПИ, 1965, 57 с. Содержание: Введение Тип галоидных соединений Тип органических соединений Тип кислородных солей Вопросы для самопроверки Литература Указатель минералов

М.: Наука, 1979. -384 с. Том посвящен учению о симметрии кристаллов, которое является теоретической основой кристаллографии, и изложению методов анализа атомной структуры кристаллов. Вначале вводятся основные понятия кристаллографии, рассматриваются общие характеристики кристаллического состояния вещества — макроскопические и микроскопические (определяемые решетчатым строением). Учение о симметрии излагается па основе теории групп. Анализируются...

М.: Наука, 1979. -360 с. Том посвящен описанию атомного (идеального) строения кристаллов, электронной структуры и динамики решетки, реальной структуры кристаллов с ее разнообразными дефектами. Излагаются основы теории химической связи между атомами, рассматриваются геометрические представления в теории кристаллической структуры и кристаллохимии, энергия решетки. Описываются важнейшие классы кристаллических структур неорганических и органических с...

Понятие о фазовых диаграммах. Строение и химизм минералов. Полиморфизм и политипия. Изоморфизм. Коллоидное состояние. Метамиктное состояние. Роль воды в минералах, типы воды. Основы систематики минералов. Самородные металлы. Систематика класса самородных металлов. Неметаллы и полуметаллы. Подцарство соединений.

Москва, Мир, 1974, 540 с. В книге рассматриваются основы теории роста кристаллов и важнейшие методы выращивания монокристаллов, применяемых в науке и технике, в частности, в полyпроводниковой электронике и лазерной технике. Книга рассчитана на специалистов по выращиванию кристаллов, а также на студентов старших курсов и аспирантов физических, физико-технических, химических и геологических специальностей.

Опорный конспект по кристалографии и методам дифракции. 2004 г. 105 стр. Основные понятия кристалографии Явление дифракции в кристалах как основа метода структурного анализа Основные методы рентгенострукторного анализа

В предлагаемой книжке описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены базы взаимодействия убыстренного пучка электронов с образчиком и оборудование для ЭЗМА и РЭМ, ключевые основы формирования изображения в РЭМ, основы работы рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС). Подробно рассказаны упражнения высококачественного и к...

ИФТТ РАН, Подмосковный филиал МГУ им. М.В. Ломоносова. Черноголовка - Редакционно-издательский отдел ИПХФ РАН, 2002. - 144с. УДК 548.955 ББК 22.37 Ш 54 ISBN 5-901675-07-X Предлагаемая читателю книга включает в себя содержание лекционного курса по рассматриваемому направлению физического материаловедения. Изложение требует знакомства читателя с основами физики и химии и не предполагает предварительной подготовки в области кристаллографии. Элем...

М.: Мир, 1986. – 160с. В книге рассмотрены методы выращивания синтетических минералов, используемых в ювелирной промышленности, в том числе соединений, не имеющих аналогов в природе, описаны их свойства, определяющие пригодность для использования в украшениях.