В предлагаемой книжке описываются рентгеноспектральный микроанализ
и растровая электронная микроскопия применительно к решению
геологических задач. Рассмотрены базы взаимодействия убыстренного
пучка электронов с образчиком и оборудование для ЭЗМА и РЭМ,
ключевые основы формирования изображения в РЭМ, основы работы
рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой
дисперсией (ВДС). Подробно рассказаны упражнения
высококачественного и количественного рентгеноспектрального
анализа.
Книга предназначена для студентов-геологов и аспирантов, работников заводских лабораторий, а также как дополнительный материал для специалистов, использующих ЭЗМА и РЭМ для решения геологических задач. Чтобы сделать книгу доступной, в ней опущены излишние технические подробности.
Москва: Техносфера, 2008. - 232 с, ISВN 978-5-94836-177-2
Книга предназначена для студентов-геологов и аспирантов, работников заводских лабораторий, а также как дополнительный материал для специалистов, использующих ЭЗМА и РЭМ для решения геологических задач. Чтобы сделать книгу доступной, в ней опущены излишние технические подробности.
Москва: Техносфера, 2008. - 232 с, ISВN 978-5-94836-177-2