Мн.: Изд. центр БГУ., 2004 г., 531 стр., ISBN: 985-476-251-3
В монографии рассмотрены физические процессы, вызывающие нагрев
кремниевых пластин в результате их облучения импульсами
когерентного и некогерентного света. Приведены расчеты
температурных полей и термических напряжений, возникающих в
кремниевых пластинах при такой обработке, их влияние на параметры
исходных кремниевых пластин и диэлектрических покрытий, а также
даны характеристики основных видов оборудования, применяемого для
БТО. Представлены результаты применения БТО в технологии СБИС, а
именно для геттерирования быстродиффундирующих примесей, очистки
поверхности, формирования субмикронных зпитаксиальных слоев,
отжига ионнолегированных слоев в моно- и поликристаллическом
кремнии, планаризации поверхности, формирования силицидов,
омических контактов. Кроме того, большое внимание уделяется
моделированию и изучению параметров биполярных ИМС, сформированных
с применением БТО. Предназначена для научных и
инженерно-технических работников, занимающихся разработкой
технологии создания СБИС с субмикронными размерами, а также
преподавателей, студентов и аспирантов радиоэлектронного
профиля.
Библиогр.: 386 назв. Табл.
34. Ил. 246.
Библиогр.: 386 назв. Табл.
34. Ил. 246.