Методические указания к лабораторной работе. — Самара: Самарский
государственный аэрокосмический университет, 2005. — 24 с.
Анализируются конструкции и топология тонкопленочных гибридных
интегральных микросхем (ГИМС). Изучаются типы микросхем, их
классификация, конструктивно-технологические характеристики,
подложки и корпуса для ГИМС.
Рассматриваются элементы и компоненты ГИМС, монтаж компонентов.
Воспроизводится структура технологического процесса изготовления. Определяется плотность упаковки элементов и степень интеграции микросхемы. Проводится анализ электрических параметров и условий эксплуатации. Цель работы.
Задания.
Теоретические основы.
Описание лабораторной установки.
Порядок выполнения работы.
Содержание отчета.
Контрольные вопросыю
Библиографический список.
Рассматриваются элементы и компоненты ГИМС, монтаж компонентов.
Воспроизводится структура технологического процесса изготовления. Определяется плотность упаковки элементов и степень интеграции микросхемы. Проводится анализ электрических параметров и условий эксплуатации. Цель работы.
Задания.
Теоретические основы.
Описание лабораторной установки.
Порядок выполнения работы.
Содержание отчета.
Контрольные вопросыю
Библиографический список.