Методические указания к выполнению лабораторных работ № 1-7 — СПб.
: Изд-во ГУАП, 2008. — 60 с.
Содержится методические указания к выполнению лабораторных работ ,
посвященных изучению физических явлений и эффектов, используемых в
приборах и устройствах электроники и микроэлектроники.
Предназначены для студентов всех специальностей при изучении дисциплин "Физические основы электроники" и "Физические основы микроэлектроники".
Подготовлены кафедрой электроники и оптической связи и рекомендованы к изучению редакционно-издательским советом Санкт-Петербургского государственного университета аэрокосмического приборостроения. Лабораторная № 1. Элементы структурной кристаллографии.
Лабораторная № 2. Рентгеноструктурный анализ кристаллов.
Лабораторная № 3. Исследование электрофизических свойств p-n перехода.
Лабораторная № 4. Исследование свойств полупроводников с помощью эффекта Холла.
Лабораторная № 5. Исследование варикапа.
Лабораторная № 6. Измерение упругих и пьезоэлектрических модулей пьезоэлектрических кристаллов методом резонанса и антирезонанса.
Лабораторная № 7. Определение ширины запрещенной зоны полупроводников.
Предназначены для студентов всех специальностей при изучении дисциплин "Физические основы электроники" и "Физические основы микроэлектроники".
Подготовлены кафедрой электроники и оптической связи и рекомендованы к изучению редакционно-издательским советом Санкт-Петербургского государственного университета аэрокосмического приборостроения. Лабораторная № 1. Элементы структурной кристаллографии.
Лабораторная № 2. Рентгеноструктурный анализ кристаллов.
Лабораторная № 3. Исследование электрофизических свойств p-n перехода.
Лабораторная № 4. Исследование свойств полупроводников с помощью эффекта Холла.
Лабораторная № 5. Исследование варикапа.
Лабораторная № 6. Измерение упругих и пьезоэлектрических модулей пьезоэлектрических кристаллов методом резонанса и антирезонанса.
Лабораторная № 7. Определение ширины запрещенной зоны полупроводников.