Методические указания. Лабораторные работы / А. И. Лямкин, Ю. Л.
Михлин - Красноярск: СФУ, 2007. - 116с.
Содержание:
Определение плотности пористого тела
Определение удельной поверхности порошков
Ознакомление с зондовым микроскопом NanoEducator и получение изображения в полуконтактной моде атомно-силовой микроскопии
Изучение поверхности твердого тела методом сканирующей туннельной микроскопии
Изучение взаимодействия зонд-поверхность в режиме неконтактной АСМ на СЗМ NanoEducator
Устройство и характеристики сканера, подготовка зонда и устранение артефактов в СЗМ
Сканирующая зондовая литография
Обработка и количественный анализ изображений в СЗМ
Ознакомление с техникой СВВ и анализа поверхности на рентгено-электронном спектрометре SPECS
Обработка и количественный анализ спектров в РФЭС и ОЭС
Содержание:
Определение плотности пористого тела
Определение удельной поверхности порошков
Ознакомление с зондовым микроскопом NanoEducator и получение изображения в полуконтактной моде атомно-силовой микроскопии
Изучение поверхности твердого тела методом сканирующей туннельной микроскопии
Изучение взаимодействия зонд-поверхность в режиме неконтактной АСМ на СЗМ NanoEducator
Устройство и характеристики сканера, подготовка зонда и устранение артефактов в СЗМ
Сканирующая зондовая литография
Обработка и количественный анализ изображений в СЗМ
Ознакомление с техникой СВВ и анализа поверхности на рентгено-электронном спектрометре SPECS
Обработка и количественный анализ спектров в РФЭС и ОЭС