М.: Наука, 1985. - 200 с. В монографии описаны результаты
исследований физических процессов на поверхности чистого кремния,
полученные в основном методами вторичной электронной эмиссии.
Рассмотрены методы оже-электронной спектроскопии, дифракции
медленных электронов, спектроскопии характеристических потерь
энергии электронами, фотоэлектронной спектроскопии. Излагаются
сведения о геометрической и электронной структуре поверхности
чистого кремния. Приводятся результаты работ по процессам окисления
и нитридизации кремния. Рассматриваются процессы формирования
границ металл-кремний, диффузии металлов на поверхности
кремния.
Монография рассчитана на научных работников, инженеров, технологов, аспирантов и студентов старших курсов, специализирующихся в области физики поверхности полупроводников.
Монография рассчитана на научных работников, инженеров, технологов, аспирантов и студентов старших курсов, специализирующихся в области физики поверхности полупроводников.