Учебник. - Ростов на Дону, ЮФУ, 2009. – 288 с.
В учебнике подробно рассмотрены основы структурной кристаллографии
и кристаллохимии, физика дифракци рентгеновских лучей, нейронов и
электронов, анализа атомного строения веществ. Особое внимание
уделено достоверности и точности результатов структруного анализа.
Учебник может быть использован при подготовке студентов и
аспирантов физических, химических, геологических, биологических и
материаловедческих специальностей, а также инженерами и научным
работниками, занимающимися разработкой новых матреалов различного
применения.