СПбГЭТУ "ЛЭТИ", 2011 г. , 31 стр. ,
Дисциплина - Кристаллофизика
Краткое описание кристаллографических характеристик и кристаллофизических свойств материалов SnO2 и PbTe. Стереографическая проекция элементов симметрии и общей простой формы, формула симметрии. Стандартная установка кристаллографических и кристаллофизических осей координат, проекция выбранной грани на сетке Вульфа. Стереографические проекции всех частных простых форм.
Операции симметрии матричным методом. Оценка возможности возникновения эффектов: пироэлектрического, пьезоэлектрического, поляризации в электрическом поле, электропроводности.
Расчет дифрактограмм заданных материалов. Выбор материала фильтра. Выбор излучения для прецизионной рентгеносъемки. Приложение: расчетные рентгенограммы при различном излучении (Cu и Mo).
Дисциплина - Кристаллофизика
Краткое описание кристаллографических характеристик и кристаллофизических свойств материалов SnO2 и PbTe. Стереографическая проекция элементов симметрии и общей простой формы, формула симметрии. Стандартная установка кристаллографических и кристаллофизических осей координат, проекция выбранной грани на сетке Вульфа. Стереографические проекции всех частных простых форм.
Операции симметрии матричным методом. Оценка возможности возникновения эффектов: пироэлектрического, пьезоэлектрического, поляризации в электрическом поле, электропроводности.
Расчет дифрактограмм заданных материалов. Выбор материала фильтра. Выбор излучения для прецизионной рентгеносъемки. Приложение: расчетные рентгенограммы при различном излучении (Cu и Mo).