Москва: Энергия, 1973. — 144 с.: ил.
В книге описываются электрические, оптические, рентгеновские и
электронномикроскопические методы контроля технологии изготовления
полупроводниковых приборов. Рассматриваются принципы организации
технологического контроля при разработках и в производстве
приборов.
Книга рассчитана на инженеров и технологов, занимающихся разработкой и производством полупроводниковых приборов и интегральных схем, а также на студентов, специализирующихся в области физики и технологии полупроводниковых приборов.
Книга рассчитана на инженеров и технологов, занимающихся разработкой и производством полупроводниковых приборов и интегральных схем, а также на студентов, специализирующихся в области физики и технологии полупроводниковых приборов.