М.: Машиностроение, 1986. — 136 с. — (Библиотека приборостроителя).
Изложен комплекс вопросов по измерению толщины, показателя
преломления, дисперсии и других параметров оптических покрытий,
используемых в оптоэлектронике и микроэлектронике. Рассмотрены
различные методы измерения.
Книга предназначена для инженерно-технических работников оптического приборостроения и микроэлектронной техники, занимающихся вопросами контроля оптических покрытий.
Книга предназначена для инженерно-технических работников оптического приборостроения и микроэлектронной техники, занимающихся вопросами контроля оптических покрытий.