Методические указания и контрольные задания для студентов
специальности “Микро- и наноэлектронные технологии и системы”
заочной и дистанционной форм обучения. — Минск: БГУИР, 2005. — 20
с.
В данной работе приводятся темы четырех разделов, из которых
состоит курс “Кристаллофизика”. К каждой теме даются методические
рекомендации, вопросы для самопроверки, а также основная и
дополнительная литература. Приведены вопросы и задачи, входящие в
индивидуальные контрольные задания.
Основные свойства кристаллов.
Решеточное строение кристаллов и элементы точечной группы симметрии.
Пространственные решетки и их элементарные ячейки.
Кристаллографические системы и категории.
Кристаллографические символы и индексы.
Структуры реальных кристаллов.
Дефекты кристаллических структур.
Дифракционные методы определения структуры кристаллов.
Основные методы определения химического состава кристаллов.
Решеточное строение кристаллов и элементы точечной группы симметрии.
Пространственные решетки и их элементарные ячейки.
Кристаллографические системы и категории.
Кристаллографические символы и индексы.
Структуры реальных кристаллов.
Дефекты кристаллических структур.
Дифракционные методы определения структуры кристаллов.
Основные методы определения химического состава кристаллов.