Профессор Гриняев С.Н. Национальный исследовательский Томский
политехнический университет. Томск. Россия. Учебная дисциплина
«Физика твёрдого тела». 2016. — 108 с.
Кристаллографические плоскости
Правила определения индексов Миллера
Индексы Миллера для направлений в кристалле
Дифракция волн и частиц на кристалле
Методы определения атомной структуры твердых тел
Методы рентгенографии
Метод вращения кристалла
Электронография
Сканирующий (растровый) электронный микроскоп
Нейтронография
Полевая ионная микроскопия
Кристаллографические плоскости
Правила определения индексов Миллера
Индексы Миллера для направлений в кристалле
Дифракция волн и частиц на кристалле
Методы определения атомной структуры твердых тел
Методы рентгенографии
Метод вращения кристалла
Электронография
Сканирующий (растровый) электронный микроскоп
Нейтронография
Полевая ионная микроскопия