М.: Наука, 2004. — 241 с.
В монографии рассматриваются вопросы долговечности интегральных
схем в целом и элементов их конструкции при воздействии различных
дестабилизирующих факторов, вопросы прогнозирования долговечности
ИС по ускоренным испытаниям, по катастрофическим и параметрическим
отказам, а также вопросы индивидуального прогнозирования
долговечности схем по изменению их электрофизических параметров.
Книга предназначена специалистам электронной и радиоэлектронной
промышленности, студентам старших курсов и аспирантам вузов
соответствующих специальностей. Книга предназначена специалистам
электронной и радиоэлектронной промышленности, студентам старших
курсов и аспирантам вузов соответствующих специальностей. В
монографии рассматриваются вопросы долговечности интегральных схем
в целом и элементов их конструкции при воздействии различных
дестабилизирующих факторов, вопросы прогнозирования долговечности
ИС по ускоренным испытаниям, по катастрофическим и параметрическим
отказам, а также вопросы индивидуального прогнозирования
долговечности схем по изменению их электрофизических параметров.