Гаськов А.М. (ред.) Методы исследования неорганических веществ и материалов

Методические разработки к лабораторному практикуму. - Москва: МГУ, 2003 - 47 с.
Индицирование рентгенограмм аналитическим методом.
Исследование кристаллической структуры методом электронной дифракции.
Применение длинноволновой спектроскопии для исследования неорганических соединений.
Расчет кинетических параметров по данным термогравиметрии.
Анализ состава поверхности методом оже-электронной спектроскопии.
Количественный анализ состава поверхности монокристаллов и пленок.
Распределение элементного состава по толщине тонких пленок и гетероструктур.
Количественный анализ содержания примесей методом атомно-флуоресцентной спектрометрии с индуктивно- связанной плазмой.
Применение оптической микроскопии в неорганической химии.
Исследование морфологии поверхности подложки, пленки, кристалла.
Исследование микроструктуры поверхности поликристаллического образца.
Визуализация фазовых превращений при нагревании вещества.
Метод высокотемпературной масс-спектрометрии в неорганической химии.