В первом томе "Современной кристаллографии" дана общая
характеристика кристаллического вещества, рассмотрена теоретическая
основа кристаллографии - учение о симметрии, изложены методы
исследования структуры кристаллов. Второй том "Современной
кристаллографии" посвящен строению кристаллов - их атомной,
электронной и реальной микроскопической структуре. В третьем томе
"Современной кристаллографии" систематически изложены современные
представления о механизме зарождения и роста кристаллов. Отражены
как теоретические, так и экспериментальные аспекты проблемы. В
четвертом томе "Современной кристаллографии" изложены физические
свойства кристаллов, причем рассмотрение их ведется с точки зрения
кристаллофизики, что отличает это рассмотрение от традиционного
подхода к физическим свойствам кристаллов на основе физики твердого
тела. Основное внимание обращено на анизотропию свойств кристаллов,
их связь с точечной и пространственной симметрией, с атомной и
реальной структурой кристаллов. Описание физических свойств
кристаллов ведется с помощью тензорного аппарата кристаллофизики.