Л.: Наука, 1978. — 208 с.
В монографии излагаются физические основы процессов диффузии и
дефектообразовання в полупроводниковых эпитаксиальных гетеро- и
гомоструктурах. Рассматриваются особенности диффузионного
легирования эпитаксиальных структур, связанные с взаимодействием
примесных атомов с дефектами кристаллической решетки, полями
упругих напряжений и контактными электрическими полями. Приведен
математический анализ диффузионной задачи применительно к
эпитаксиальным структурам. Систематизированы и обобщены результаты
экспериментальных исследований дефектообразования и диффузии
примесей в эпитаксиальных гетеро- и гомоструктурах на основе
германия, кремния, полупроводниковых соединений А3В5 и их твердых
растворов, а также соединений А'3В6. Описаны методы исследования
концентрационных профилей примесей в таких структурах. Рассмотрена
роль процессов образования дефектов, миграции и взаимодействия
примесей и дефектов в явлении деградации инжекционных приборов
(светодиодов и гетеролазеров) на основе эпитаксиальных структур.
Обсуждаются результаты экспериментальных работ по этому вопросу.