Диссертация на соискание ученой степени кандидата химических наук.
— Москва: РХТУ им. Д.И. Менделеева, 2016. — 117 с.
Специальность 05.27.06 – Технология и оборудование для производства
полупроводников, материалов и приборов электронной техники
Целью диссертационной работы явилось решение актуальной проблемы
контроля примесно-дефектного состояния кристаллов и тонких пленок
высокочистого селенида цинка со структурой сфалерита (s-ZnSe) для
полупроводниковых и оптических структур.