М.: Мир, 1987. — 600 с., ил.
Книга известных специалистов из Великобритании, США, ФРГ и Канады
представляет собой детальное и конкретное руководства по применению
оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для
анализа поверхности. Она является первой учебно-справочной
монографией, в которой обобщены результаты огромного числа
публикаций по этим вопросам. В первых пяти главах изложены
необходимые научные основы методов, в гл. 6-10 рассмотрены их
основные применения в важнейших областях современной техники.Для
физиков и химиков, занимающихся исследованиями поверхности,
инженеров, связанных с технологией работ, аспирантов и студентов.