Учебное пособие. — Москва: Высшая школа, 1975. — 325 с.
В книге изложены основные принципы и методы измерения параметров
полупроводниковых приборов; дана оценка погрешностей измерения
параметров; описаны методы измерения статических параметров,
параметров двухполюсника и четырехполюсника с помощью малого
сигнала, импульсных параметров, шумовых и тепловых параметров,
параметров высокочастотных полупроводниковых приборов и др.;
приведены особенности конструирования измерительного и
испытательного оборудования.
Для специальностей полупроводниковой техники вузов. Основные принципы и методы измерения электрических параметров полупроводниковых приборов.
Оценки погрешности измерения параметров полупроводниковых приборов.
Измерение статистических параметров полупроводниковых приборов.
Измерение параметров эквивалентных двухполюсника и четырехполюсника с помощью малого сигнала.
Измерение параметров эквивалентных схем полупроводниковых приборов.
Измерение импульсных параметров полупроводниковых приборов.
Исследования и измерение шумовых параметров полупроводниковых приборов.
Исследования и контроль тепловых характеристик полупроводниковых приборов.
Измерение параметров генераторных высокочастотных полупроводниковых приборов.
Испытания полупроводниковых приборов на надежность.
Особенности конструирования измерительного и испытательного оборудования для полупроводниковых приборов.
Для специальностей полупроводниковой техники вузов. Основные принципы и методы измерения электрических параметров полупроводниковых приборов.
Оценки погрешности измерения параметров полупроводниковых приборов.
Измерение статистических параметров полупроводниковых приборов.
Измерение параметров эквивалентных двухполюсника и четырехполюсника с помощью малого сигнала.
Измерение параметров эквивалентных схем полупроводниковых приборов.
Измерение импульсных параметров полупроводниковых приборов.
Исследования и измерение шумовых параметров полупроводниковых приборов.
Исследования и контроль тепловых характеристик полупроводниковых приборов.
Измерение параметров генераторных высокочастотных полупроводниковых приборов.
Испытания полупроводниковых приборов на надежность.
Особенности конструирования измерительного и испытательного оборудования для полупроводниковых приборов.