Учеб. пособие. СПб.: Изд-во СПбГТУ, 1997.- 46 с.
Пособие раскрывает содержание раздела дисциплины СД.03. “Физика и
диагностика поверхности” государственного образовательного
стандарта специальности 071400 “Физическая электроника”, а также
родственных специальных дисциплин направлений бакалаврской
подготовки 550700 “Электроника и микроэлектроника” и 553100
“Техническая физика”. Изложены основные представления о дифракции
медленных электронов и возможностях метода ДМЭ, описаны конструкция
электронографа и методики расшифровки дифракционных картин,
обсуждается влияние дефектов на картины ДМЭ. Приводятся указания по
выполнению лабораторной работы на низковольтном электронографе.
Предназначено студентам третьего и четвертого курсов радиофизического факультета, изучающих дисциплины “Физика поверхности и границ раздела” и “Диагностика поверхности материалов” и выполняющих лабораторный практикум по современным методам иссле-
дования.
Предназначено студентам третьего и четвертого курсов радиофизического факультета, изучающих дисциплины “Физика поверхности и границ раздела” и “Диагностика поверхности материалов” и выполняющих лабораторный практикум по современным методам иссле-
дования.