М.: Наука, 1965. — 532 с.
В сборнике обсуждаются требования к контролю веществ высокой
чистоты, возможности и перспективы развития современных методов
анализа, повышения их чувствительности и точности, а также условия
работы с высокочистыми веществами. В книге излагаются в виде
детальных прописей радиоактивационный, масс-спектральный,
эмиссионный спектральный, спектрофотометрический, люминесцентный и
полярографический методы определения примесей более чем в 30
металлах, неметаллах, интерметаллидах и реактивах. Некоторые из
включенных методов были опубликованы в периодической печати,
некоторые публикуются впервые. Разнообразие методов, основанных на
различных принципах, дает возможность исследователям выбрать
наиболее пригодный в каждом отдельном случае метод анализа. Такой
единый сборник проверенных методов анализа полупроводниковых
веществ публикуется впервые.