Год: 1977
Авторы: Ящерицын П. И., Рыжов Э. В., Аверченко В. И.
Издательство: Минск, "Наука и техника"
Качество: Отсканированные страницы + слой распознанного текста
Количество страниц: 256
Рецензенты: член-корреспондент АН БССР В. Н. Чачин, кандидат технических наук И. П. Караим, кандидат технических наук Ю. И. Ретивых
Описание: В книге показано влияние технологической наследственности на формирование волнистости, шероховатости, физико-механические свойства поверхностного слоя и образование геометрической погрешности обработки деталей. Освещены актуальные вопросы технологического обеспечения качества поверхности и эксплуатационных свойств деталей машин для широкого круга современных методов предварительной и финишной обработки. Приведены новые данные по моделированию технологических процессов с учетом технологической наследственности.
Предназначена для научных сотрудников и инженеров-технологов машиностроительных предприятий и проектных организаций, а также может быть полезна аспирантам и студентам технических вузов.
Авторы: Ящерицын П. И., Рыжов Э. В., Аверченко В. И.
Издательство: Минск, "Наука и техника"
Качество: Отсканированные страницы + слой распознанного текста
Количество страниц: 256
Рецензенты: член-корреспондент АН БССР В. Н. Чачин, кандидат технических наук И. П. Караим, кандидат технических наук Ю. И. Ретивых
Описание: В книге показано влияние технологической наследственности на формирование волнистости, шероховатости, физико-механические свойства поверхностного слоя и образование геометрической погрешности обработки деталей. Освещены актуальные вопросы технологического обеспечения качества поверхности и эксплуатационных свойств деталей машин для широкого круга современных методов предварительной и финишной обработки. Приведены новые данные по моделированию технологических процессов с учетом технологической наследственности.
Предназначена для научных сотрудников и инженеров-технологов машиностроительных предприятий и проектных организаций, а также может быть полезна аспирантам и студентам технических вузов.