Полный расчет надежности включает определение количества всех ком-
понентов аппаратуры, количества внешних выводов, монтажных соединений
и т. д. и поэтому представляет собой очень трудоемкую операцию. В свя-
зи с этим часто ограничиваются ориентировочным расчетом надежности в
зависимости от числа использованных элементов.
Если какая-то радиоэлектронная аппаратура имеет тысячу элементов,
то, считая опасность отказов всех элементов одинаковой и равной λ
i
= 4·10
−6
1/ч, получим Λ
s
= 4 · 10
−6
· 10
3
= 0, 04. Вероятность того, что такая аппа-
ратура проработает 100 часов, будет равна: P
s
(t) = e
−0,004·100
= e
−0,4
= 0, 67.
Среднее время безотказной работы T = 1/Λ
s
= 250. Если же сложность ап-
паратуры возрастет, и число элементов в ней увеличится до 10 000, то P
s
(t) =
= e
−4
= 0, 0183; T = 25. Даже в простых счетно-решающих устройствах, ти-
па карманных и настольных калькуляторов, для выполнения всех функций
необходимо иметь 40–50 тыс. транзисторов. Если бы такая аппаратура созда-
валась из дискретных компонентов, то Λ
s
= 4 ·10
−6
·5 ·10
4
= 20 ·10
−2
= 0, 2;
T1/0, 2 = 5.
Конечно, работать с такими устройствами практически невозможно. Но
именно такое значение надежности и времени безотказной работы имели
электронные машины первого и второго поколений (на дискретных элемен-
тах).
Обеспечение достаточно длительной безотказной работы сложной аппа-
ратуры было достигнуто за счет увеличения надежности используемых в си-
стеме элементов и сокращения их числа. Наиболее надежными элементами
вычислительной техники являются интегральные микросхемы. Надежность
интегральных схем в сотни и тысячи раз превышает надежность аналогичной
аппаратуры, созданной из дискретных элементов: опасность отказов у ИС со-
ставляет 10
−6
−10
−9
1/ч. Столь высокая надежность интегральных микросхем
получается благодаря особой технологии их изготовления. Микросхема фор-
мируется на поверхности и в толще монокристалла кремния. Так как при
этом отсутствуют проволочные внутрисхемные соединения и паяные контак-
ты, надежность интегральных микросхем, образно говоря, приближается к
надежности сплошного металла.
Само появление интегральных схем было вызвано необходимостью со-
здания электронно-вычислительной аппаратуры с высокой надежностью. С
тем же количеством элементов, которое рассматривалось в предыдущем при-
мере, аппаратура на интегральных микросхемах будет иметь среднее время
безотказной работы T
cp
= 20000 ч.
Другим эффективным средством повышения надежности аппаратуры
является резервирование, т. е. замена отказавших элементов заранее преду-
92