181
www.nanonewsnet.ru
ГЛАВА 4. Наноэлектроника и МЕМС
Все процессы по обработке полупроводниковых пластин
проводятся в условиях вакуумной гигиены в специальных поме
щениях со сверхчистой атмосферой. В противном случае пыль
может осесть на пластину и нарушить элементы и соединения
микросхемы (гораздо меньшие по размерам, чем сама пыль).
Очищенная кремниевая пластина подвергается так называ
емому оксидированию (или окислению) воздействию на заго
товку кислородом, которое происходит под высокой темпера
турой (1000°C).
Таким образом на поверхности заготовки создается тончай
ший слой диоксида кремния SiO
2
. Регулируя время воздей
ствия кислорода и температуру кремниевой подложки, можно
легко сформировать слой оксида нужной толщины.
Диоксидная пленка отличается очень высокой химической
стойкостью, большой прочностью и обладает свойствами хоро
шего диэлектрика, что обеспечивает надежную изоляцию нахо
дящегося под ним кремния и защищает его от нежелательных
воздействий в ходе дальнейшей обработки.
22.. ННааннеессееннииее ффооттооррееззииссттаа
Если некоторые области кремния, лежащие под слоем ок
сида, необходимо подвергнуть обработке, то оксид надо пред
варительно удалить с соответствующих участков. Для этого на
диоксидную пленку наносится слой фоторезиста.
ФФооттооррееззиисстт
– это светочувствительный материал, который
после облучения становится
растворимым в определен
ных химических веществах.
Фотошаблон представляет
собой пластинку, состоящую
из прозрачных и непрозрач
ных участков, и играет роль
трафарета.
33.. ЭЭккссппооннииррооввааннииее
На следующем этапе – экспонировании – пластину с нало
женным на нее фотошаблоном подвергают действию излуче
ния. Фоторезист, расположенный под прозрачными участками
фотошаблона, засвечивается.
Рис 102 .Исходная полупроводниковая пластина с
проводимостью ртипа, покрытая слоями SiO
2
, и
фоторезиста: 1 слой фоторезиста, 2 слой SiO
2
,
3 полупроводниковая пластина